| 1.CPUテスト(計12項目) |
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レジスタテスト:データ処理をシミュレーションするデフォルトテストパターンを使用して、CPUレジスタをテスト |
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L2キャッシュテスト:システムRAMを使用して、2次キャッシュメモリの間接テストを実行 |
| ・ |
演算レジスタテスト:コプロセッサ、レジスタスタック、ポインタ、およびコマンドに対して算術演算、超越演算等のテスト |
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MMXテスト:PADD、PSUB、PMUL、PMADD等の全18項目のMMXコマンドのテスト |
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SSEテスト:MOV、ADD、SUB、MUL等の全29項目のSSEコマンドのテスト |
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SSE2テスト:MOV、ADD、SUB、MUL等の全24項目のSSE2コマンドのテスト |
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SSE3テスト:SSE3コマンドを使用したテスト |
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SSSE3テスト:SSS3コマンドを実行し、演算命令が正常に動作しているかテスト |
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SSE4.1テスト:SSE4.1コマンドを実行し、各命令が仕様通りに正常に機能しているかテスト |
| ・ |
SSE4.2テスト:SSE4.2コマンドを実行し、各命令が仕様通りに正常に機能しているかテスト |
| ・ |
マルチコアテスト:実行可能なCPUコアを使用して様々なオペレーションを平行して実行、何百ものスレッドを処理 |
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浮動小数点ユニットテスト:浮動小数点演算に関するテストで構成され、加算、減算、乗算、除算を実行 |
| 2.HDDテスト(計4項目) |
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指定読み取りテスト:ハードドライブのログを読み取り、ログデータが破損の危険性が高いと示すハードドライブセクタの検査を実行 |
| ・ |
ランダムシークテスト:ハードディスクのヘッドを1度に1トラックずつディスクの数百箇所にランダムに移動させることでハードディスクの信頼性を確認 |
| ・ |
ファネルシークテスト:ハードディスクのヘッドをファネル方式で継続的に移動させることでハードディスクの信頼性を確認 |
| ・ |
表面スキャンテスト:ハードディスクメディアの表面の異常をスキャン実行 |
| 3.HDD SMARTテスト(計3項目) |
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ステータステスト:SMART対応ドライブのステータスから問題の予兆の有無を確認 |
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ショートセルフテスト:SMART対応ドライブにショートセルフテストを実行 |
| ・ |
拡張セルフテスト:SMART対応ドライブに拡張セルフテストを実行 |
| 4.メモリテスト(計11項目) |
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アドバンストパターンテスト:隣接するセルに対する読み書きにより、セルの破損を確認 |
| ・ |
下位ビットテスト:全てのメモリビットを0にし、それぞれのビット値の読み込みを実行 |
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上位ビットテスト:全てのメモリビットを1にし、それぞれのビット値の読み込みを実行 |
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アドレステスト:自己のアドレス値がそれぞれの固有アドレス値を記録しているか確認 |
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補助パターンテスト:データパターンでメモリを埋め、書き込んだデータの整合性を確認 |
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ニブル移動テスト:上位と下位の単一アドレスにニブルを設定し、ニブル内のビット値の確認 |
| ・ |
チェックボードテスト:メモリアドレスにチェックボードパターンを書き込み、データの整合性を確認 |
| ・ |
ウォーキングワンレフトテスト:0の値を右から左へ1の値に設定し0の値に戻しそれぞれのビット値の確認 |
| ・ |
ウォーキングワンライトテスト:0の値を左から右へ1の値に設定し0の値に戻しそれぞれのビット値の確認 |
| ・ |
モジュロ20テスト:テストパターンをメモリスペース20毎に書き込み、書き込んだデータの整合性を確認 |
| ・ |
ムービングインバージョンテスト:すべての実行可能なアドレスにテストパターンを書き込み、書き込まれたデータと読み込まれたデータが一致するかを確認 |
| 5.システムボードテスト(計1項目) |
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RTC正確性テスト:マザーボードとCPUの時計に大幅にずれがないか確認 |
| 6.CMOSテスト(計2項目) |
| ・ |
チェックサムテスト:CMOSメモリでチェックサムテストを実行し、データに誤りがないか確認 |
| ・ |
パターンテスト:テストパターンをCMOSメモリに書き込み、書き込んだデータの整合性を確認 |
| 7.PCIテスト(計1項目) |
| ・ |
構成テスト:全てのPCIデバイスがマイクロプロセッサと正常な通信を行っているか確認 |
| 8.PCI Expressテスト(計1項目) |
| ・ |
ステータステスト:PCI Express機能構造内のステータスレジスタにエラービットがないか確認 |
| 9.モニタテスト(計1項目) |
| ・ |
ソリッドカラーテスト:画面に全黒、全赤、全緑、全白にし、色むらや傷の有無、輝点のドット落ちの数が基準内か確認 |
| 10.マウステスト(計3項目) |
| ・ |
マウスステータステスト:マウスカーソル位置、ボタン機能、スクロール機能のテスト |
| ・ |
ドラッグアンドドロップテスト:ファイルおよびディレクトリを正しくドラッグアンドドラッグできるか確認 |
| ・ |
ダブルクリックテスト:ダブルクリックが機能するか確認 |
| 11.キーボードテスト(計1項目) |
| ・ |
キーボードテスト:全てのキーの反応、感触、入力を確認 |
| 12.CD-ROMドライブテスト(計4項目) |
| ・ |
リニアシークテスト:CDドライブのヘッドをディスク中心から外側に向けて移動し、ヘッドの動きに問題がないか確認 |
| ・ |
ランダムシークテスト:ヘッドをランダムに1ブロックずつ移動し、ヘッドの動きに問題がないか確認 |
| ・ |
ファネルシークテスト:ヘッドをファネル方式で継続的に移動し、ヘッドの動きに問題がないか確認 |
| ・ |
リニアリード比較テスト:各セクタから部分的にデータを2度読み込み、読み込んだ2つのデータの整合性を確認 |
| 13.CD-RWドライブテスト(計1項目) |
| ・ |
リード/ライトテスト:データをCD-RWに書き込み、書き込まれたデータが一致するか確認 |
| 14.PCカードテスト(計1項目) |
| ・ |
デバイス認識テスト:左側面上段1スロットに接続したデバイスが認識される事を確認 |
| 15.Expressカードテスト(計1項目) |
| ・ |
デバイス認識テスト:左側面下段1スロットに接続したデバイスが認識される事を確認 |
| 16.USBポートテスト(計1項目) |
| ・ |
デバイス認識テスト:左側面下段1スロットに接続したデバイスが認識される事を確認 |
| 17.IEEE1394テスト(計2項目) |
| ・ |
1394バスリセットテスト:バスリセット生成カウントを使用してIEEE1394バスが正常に動作していることを確認 |
| ・ |
1394コントローラ構成ROMテスト:CRC(Cyclic Redundancy Check)値がコントローラ構成ROMから取り出されたCRC値と一致するか確認 |
| 18.eSATAテスト(計1項目) |
| ・ |
デバイス認識テスト:左側面下段1スロットに接続したデバイスが認識される事を確認 |
| 19.外観目視検査(計6項目) |
| ・ |
外観の目立つ汚れ、傷、変色、欠損、破損の有無確認など |
| 20.クリーニング(計4項目) |
| ・ |
本体のクリーニングなど |
| 21.BIOS検査(計3項目) |
| ・ |
BIOS設定の初期化及び出荷時点での最新BIOS搭載など |
| 22.HDD記録内容の初期化(計1項目) |
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HDDをメーカー出荷時の状態に復元 |
| 23.OS・記憶容量検査(計3項目) |
| ・ |
OS・搭載メモリ・HDD容量とお申込み内容と一致確認など |
| 24.ネットワーク接続検査(計4項目) |
| ・ |
HUBとの接続検査、及びOSでのネットワーク認識検査など |
| 25.DisplayPort検査(計1項目) |
| ・ |
検査用モニタへの接続検査 |
| 26.指紋センサー検査(計6項目) |
| ・ |
指紋センサー作動検査など |
| 27.マイク検査(計1項目) |
| ・ |
マイク作動検査 |
| 28.ボタン作動検査(計3項目) |
| ・ |
各ボタンをタッチしての動作確認など |
| 29.その他の検査(計12項目) |
| ・ |
弊社規定検査 |
| 30.ACアダプタ検査(計3項目) |
| ・ |
断線、接触不良、破損等がなく、正常動作する検査など |
| 31.光学ドライブ作動検査(計3項目) |
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光学ドライブの開閉、異音、再生検査など |
| 32.SDカードスロット検査(計1項目) |
| ・ |
SDカード接続検査 |